Det rapporteras att USA:s energidepartement (DOE) nyligen släppte den tredje tillförlitlighetsrapporten för LED-drivrutiner baserad på ett långsiktigt accelererad livslängdstest.Forskare inom Solid-state lighting (SSL) vid USA:s energidepartement tror att de senaste resultaten har bekräftat metoden för accelererad trycktest (AST), som har visat god prestanda under olika svåra förhållanden.Dessutom kan testresultaten och uppmätta felfaktorer informera förarutvecklare om relevanta strategier för att ytterligare förbättra tillförlitligheten.

Som bekant är LED-drivrutiner, liksom LED-komponenterna själva, avgörande för optimal ljuskvalitet.En lämplig drivrutinsdesign kan eliminera flimmer och ge enhetlig belysning.Och föraren är också den mest sannolika komponenten i LED-lampor eller belysningsarmaturer som inte fungerar.Efter att ha insett vikten av förare startade DOE ett långsiktigt förartestningsprojekt 2017. Detta projekt involverar enkanals- och flerkanalsdrivrutiner, som kan användas för att fixera enheter som takräfflor.

United States Department of Energy har tidigare släppt två rapporter om testprocessen och framstegen.Nu är det den tredje testdatarapporten, som omfattar produkttestresultaten på 6000-7500 timmars drift under AST-förhållanden.

Faktum är att branschen inte har så mycket tid att provköra i normala driftsmiljöer på många år.Tvärtom har USA:s energidepartement och dess entreprenör RTI International testat ställdonet i vad de kallar 7575-miljön – inomhusfuktigheten och temperaturen hålls vid 75 ° C. Detta test involverar två steg av förartestning, oberoende av kanalen.Enstegsdesign kostar mindre, men den saknar en separat krets som först omvandlar AC till DC och sedan reglerar strömmen, vilket är unikt för tvåstegsdesign.

United States Department of Energy rapporterade att i testet av 11 olika enheter, körde alla enheter i 1000 timmar i en 7575-miljö.När frekvensomriktaren är placerad i ett miljörum, är LED-belastningen ansluten till frekvensomriktaren placerad under utomhusmiljöförhållanden, så AST-miljön påverkar endast frekvensomriktaren.DOE associerade inte drifttiden under AST-förhållanden med drifttiden under normala miljöer.Den första satsen enheter misslyckades efter 1250 timmars drift, även om vissa enheter fortfarande är i drift.Efter att ha testat i 4800 timmar misslyckades 64 % av enheterna.Men med tanke på den hårda testmiljön är dessa resultat redan mycket bra.

Forskare har funnit att de flesta fel uppstår i det första steget av föraren, särskilt i effektfaktorkorrigering (PFC) och undertryckande kretsar för elektromagnetisk störning (EMI).I båda stegen av drivrutinen har MOSFETs också fel.Förutom att specificera områden som PFC och MOSFET som kan förbättra förarens design, indikerar denna AST också att fel vanligtvis kan förutsägas baserat på övervakning av förarens prestanda.Till exempel kan övervakning av effektfaktor och överspänning upptäcka tidiga fel i förväg.Ökningen av blinkningar indikerar också att ett fel är på väg att inträffa.

Under en lång tid har DOE:s SSL-program genomfört viktiga tester och forskning inom SSL-området, inklusive produkttestning av applikationsscenarier under Gateway-projektet och kommersiella produktprestandatester under Caliper-projektet.